斯瑞通统计过程控制系统sunrise® SPC2000

Sunrise® SPC2000功能强大实用

  灵活应用层别查找异常原因

  应用SPC的主要目的是要发现和解决异常,其主要手段是通过层别分析,灵活应用层别是本系统一大特色,用户可灵活自定义多种层别进行分析,并将层别的多个结果表现在同一屏幕,便于分析;

  计数值和计量值的整合

  成功地结合了计数值与计量值两大相对独立的系统,让您针对各项产品可以更容易地建立计数值与计量值统计数据;
  多种数据收集方式

  手工输入、自动采集和外部数据导入;

  可根据需要选择多种计量值数据录入方式

  多项管制特性录入:适合于数据集中录入;
  标准图表录入:录入的同时即时显示图形和统计量;
  单管制特性明细录入:便于进行异常分析;

 
  可设定多种计数检验方法

  标准方法:MIL-STD-105D、MIL-STD-105E、GB2828;自行设定:用户可以根据需要自行设定;

  多品质特性图的整合

  提供了依不同管制特性权重和该管制特性的制程能力,共同分析产生数据做比对, 以便在制程中同时对各管制特性进行综合分析并有效掌控, 同时计算出产品的综合品质指数;

  自由设定sigma的标准差控制图

  用户可以自行设置3~6倍标准差的管制界限出控制图,引入6 sigma的品质新观念来设定管制界限,以利于朝零缺点方向的循序渐进;

  PPM/不良率分析

  提供了可按产品编号或时间为基础汇总的每天、每周、每月资料做分析的PPM推移图和不良率推移图;

  过程控制效果的比对

  提供对制程改善项目结果的比对分析, 可以设定品质改善前、品质改善中、品质改善后的界限;

 
  多条件任意组合的数据分析

  可以按照产品种类、检验单据、检验站点、检验员、检验时间等对已有检验数据进行加工,生成各种图表;

 
  异常点自动判别

  系统设置八大管制图判定规则,能即时分析,判别异常点(异常点为红色),同时提示预警信息;

 
  管制图数据点即时提示,数据点值即时修改

  用户将鼠标移至图表的数据点时,系统自动出现提示框,提示当前数据点的值。点击鼠标右键,可以直接对当前数据点的数据进行修改,修改后系统自动刷新图表显示;

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