斯瑞通统计过程控制系统sunrise® SPC2000
Sunrise® SPC2000功能强大实用
灵活应用层别查找异常原因 应用SPC的主要目的是要发现和解决异常,其主要手段是通过层别分析,灵活应用层别是本系统一大特色,用户可灵活自定义多种层别进行分析,并将层别的多个结果表现在同一屏幕,便于分析; 计数值和计量值的整合 成功地结合了计数值与计量值两大相对独立的系统,让您针对各项产品可以更容易地建立计数值与计量值统计数据; 多种数据收集方式 手工输入、自动采集和外部数据导入; 可根据需要选择多种计量值数据录入方式 多项管制特性录入:适合于数据集中录入; 标准图表录入:录入的同时即时显示图形和统计量; 单管制特性明细录入:便于进行异常分析; 可设定多种计数检验方法 标准方法:MIL-STD-105D、MIL-STD-105E、GB2828;自行设定:用户可以根据需要自行设定; 多品质特性图的整合 提供了依不同管制特性权重和该管制特性的制程能力,共同分析产生数据做比对, 以便在制程中同时对各管制特性进行综合分析并有效掌控, 同时计算出产品的综合品质指数; 自由设定sigma的标准差控制图 用户可以自行设置3~6倍标准差的管制界限出控制图,引入6 sigma的品质新观念来设定管制界限,以利于朝零缺点方向的循序渐进; PPM/不良率分析 提供了可按产品编号或时间为基础汇总的每天、每周、每月资料做分析的PPM推移图和不良率推移图; 过程控制效果的比对 提供对制程改善项目结果的比对分析, 可以设定品质改善前、品质改善中、品质改善后的界限; 多条件任意组合的数据分析 可以按照产品种类、检验单据、检验站点、检验员、检验时间等对已有检验数据进行加工,生成各种图表; 异常点自动判别 系统设置八大管制图判定规则,能即时分析,判别异常点(异常点为红色),同时提示预警信息; 管制图数据点即时提示,数据点值即时修改 用户将鼠标移至图表的数据点时,系统自动出现提示框,提示当前数据点的值。点击鼠标右键,可以直接对当前数据点的数据进行修改,修改后系统自动刷新图表显示;
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